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HIAF自研高性能核心电子学设备通过专家组测试
发布时间:2024-12-14 11:50  访问量:47

        近日,强流重离子加速器装置(HIAF)项目团队自主研发的高性能核心电子学设备在惠州顺利通过专家组现场测试评审。中国工程物理研究院邓建军院士担任专家组组长,与来自中国科学院高能物理研究所等单位的13位束测与电子学领域专家,共同对HIAF的13种核心电子学设备进行了全面测试。专家组一致认为,系列设备在实测参数上远超预期设计指标,部分关键参数达到了国际领先水平,这也标志着该电子学系列设备在核心技术上取得突破,成功打破了国外的垄断、全面实现了国产化,有力满足了离子加速器重大工程应用需求。

        长期以来,高端束测与机器保护核心电子学技术,如BPM、高速多通道等系统一直被国外公司垄断,不仅价格昂贵、升级难度大,而且难以满足工程项目需求。为实现HIAF装置束流的高精度、大动态范围、多维度参数测量以及微秒量级快联锁保护的需求,加速器技术中心束流反馈及机器保护技术室的科研团队历经6年的艰苦攻关,突破了相关技术瓶颈,全面开展了基于高性能数字处理平台20多类电子学设备的自主研发工作。团队成功实现了束流6维相空间、流强动态范围跨9个量级的高精度测量,解决了从样机研制到工程批量应用的迭代难题。相关成果已成功应用于兰州重离子研究装置(HIRFL)和新疆理化所的质子位移损伤效应模拟试验装置(PREF)等项目中,并长期稳定可靠运行。截至目前,科研人员已在HIAF上成功安装了超1600套核心电子学设备,保障了工程进度,并大幅节省了工程经费。

        团队自主研发的高性能电子学设备采用的标准化和模块化的设计理念,不仅满足了HIAF在极大动态范围、多运行模式、智能化自检自标、LACCS控制等方面的多样化需求,还实现了各设备间的高速数据互联和瞬态高速数据聚合,在解决数据质量和完整性不足的问题的同时,为机器学习和人工智能在加速器领域的应用奠定了基础,并可以推广至同类型的高功率加速器装置中。

图1:会议现场

图2:HIAF高性能自研电子学设备


(束流反馈及机器保护技术室、工程处 供稿)