2020年07月高频进展
发布时间:2020-07-17 08:43  访问量:427

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        2020年7月,高频系统完成 YL-24号单只磁环300小时连续高功率密度测试,测试期间电压波形、功率源输出功率及油冷机组温度变化均较稳定,磁环表面温度最高98℃,下一步计划开展1000小时拷机测试;同时,利用直径95mm磁环开展了射频耐压测试,结果表明磁环工艺满足层间耐压要求。

        磁合金腔高频低电平系统完成测试平台搭建,编写完成上位机软件、反馈控制算法,正在进行软硬件联调,下一步将开展U35+ h=4工作波形离线幅度和相位闭环调试。

        图1为大尺寸磁环高功率密度测试装置 ;图2为射频耐压测试;图3为冷热态磁环性能测试平台;图4为高频系统全数字低电平自环测试系统。